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[請益] 測試攔檢方式
Nov 13th 2013, 22:43, by ICRO

作者ICRO (聖文大色胚)

看板Tech_Job

標題[請益] 測試攔檢方式

時間Wed Nov 13 22:43:41 2013

請問各位高手 如果要監控產品的品質 例如bonding的好壞 可以看他每次的經度來建立SPC監測 但目前遇到一個困惑的地方 今天如果要監控品質 這產品是觸控產品 使用電測程式去進行測試 如要監控 因該是要看其測試的數據 去監控他的起伏 但其測試數值矩陣非常巨大 且有區域性其獨特性 有些位置特別低 有些特別高 那要如何監控他 因為沒有一個數值能夠代表整片 想請教各位 有何想法 例如 晶圓廠商要測試晶圓是否好壞 監控製程是否變異 是怎樣去測試IC的= = -- -- ※ 發信站: 批踢踢實業坊(ptt.cc) ◆ From: 122.146.83.143

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